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抗静电能力测试系统

放大字体  缩小字体 发布日期:2024-10-18 09:16:37    浏览次数:27
导读

抗静电能力测试系统介绍:1.描述充电器件模型(CDM)静电放电是微电子电路故障的常见原因。较低电压下的CDM放电会严重损坏或损毁灵敏设备。当带静电的设备以不同的电位接触金属表面时,通常会发生这种情况。这种静电

抗静电能力测试系统介绍:

1.描述

充电器件模型(CDM)静电放电是微电子电路故障的常见原因。较低电压下的CDM放电会严重损坏或损毁灵敏设备。当带静电的设备以不同的电位接触金属表面时,通常会发生这种情况。这种静电放电通常具有非常快的上升时间。

ES640是一款自动化的CDM测试仪,可满足所有流行的CDM测试方法,支持场感应空气放电方法(FICDM)和接触放电(LI-CCDM、CC-TLP、RP-CCDM)方法。本测试系统包含计算机、环境控制室、精确的XYZ运动控制系统、不同类型的CDM测试仪头以及自动测试和数据分析软件。

以下是ESDEMC ES640 CDM解决方案与其他解决方案的比较,包括Thermo Scientific Orion3 CDM测试仪、Hanwa HED-C5000R等。

2.特点

高分辨率摄像头(可多达3个)可轻松进行引脚对齐操作

高分辨率运动控制系统(步长低至1µm)

允许批量测试多个设备

正在申请的CCDM方法具有更好的可重复性

密闭的环境室提高了干燥单元的效率

支持再生干燥单元(无需氮气)

3.应用

用于封装和晶圆级测试的通用CDM系统

支持许多流行的z新CDM方法:

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002(FICDM)

AEC Q100-011 Rev-D (遵循JS-002)

AEC Q101-005 Rev-A (遵循 JS-002)

ANSI/ESD SP5.3.3 (LI-CCDM,需要vf-TLP)

CC-TLP (待批准的ESDA SP,需要vf-TLP)

我司申请中的RP-CCDM方法

可根据客户要求提供已停用或定制的解决方案

机器人带电板模型(CBM)和平板ESD测试可自定义尺寸


更多详情:https://www.chem17.com/st396701/product_38659357.html
http://www.glbdzkj.com/Products-38659357.html

 
(文/小编)

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