ES660-P1 ESD静电和闩锁测试系统
1.介绍
ES660系列ESD和LU测试系统是一种先进的多针自动化测试设备，旨在满足现代半导体测试的严格要求。这款多功能器件旨在无缝支持人体模型(HBM)、机器模型(MM)和闩锁测试，为评估集成电路(ic)和电子元件的可靠性和鲁棒性提供全面的解决方案。
ES660-P1支持多达1024个引脚，是测试复杂集成电路和具有多种连接的电子元件的理想选择。其高引脚数容量确保人们能够精确高效地评估大型器件，从而缩短测试时间并提高生产率。
对于更高的引脚数，型号ES660-P2(多达2048个引脚)正在开发中。
2.特征
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兼容多种测试方法和标准
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高度灵活的偏置和引脚数配置能力
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自动化测试效率
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高级控制和监控
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泄漏和DC扫描
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数据分析
3.应用程序
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半导体器件ESD测试
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HBM模块符合ANSI/ESDA/JEDEC JS-001、MIL-STD-883E和AEC Q100-002标准
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MM模块符合ANSI/ESDA SP5.2标准
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闩锁符合JEDEC JESD78
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ANSI/ESD SP5.4.1的暂态闩锁挂起
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