长久以来，X射线吸收精细结构谱(XAFS)只能在各个同步辐射光源上测试。由于光源机时有限，无法满足众多科研工作者的测试需求。而近些年，XAFS数据已成为了顶级期刊的“标配"，致使越来越多课题组需要XAFS测试。
RapidXAFS具有如下特点:
z高光通量产品
光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采谱效率数倍于其他产品；获得和同步辐射一样的数据质量
优异的稳定性
光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移<50 meV
1%探测极限
高光通量、优异的光路优化和较好的光源稳定性确保所测元素含量>1%时依旧获得高质量EXAFS数据
仪器原理
X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。
RapidXAFS 1M台式X射线吸收谱仪主要有以下优点：
1.不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；
2.不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；
3.对样品无破坏，在大气环境下测试，可进行原位测试；
4.不受样品状态影响，可测量固体(晶体、粉末)，液体(溶液、熔融态)和气体等；
5.能获得配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，原子间距精确度可达0.01A。
更多访问：
http://www.rapid-xas.cn/Products-38302867.html
